《可測(cè)性設(shè)計(jì)（DFT）工程實(shí)踐》課程詳情
點(diǎn)擊下載課大綱及報(bào)名表 1、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)概述
 產(chǎn)品生命周期V模型
 電子信息產(chǎn)品測(cè)試所面臨的問(wèn)題
 什么是可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)
※思考：如何深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)
 可測(cè)性的物理特征表述
 可測(cè)性的測(cè)度形式
※※討論：以下各功能模塊的可測(cè)性測(cè)度是怎樣的？
 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的效益分析
 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本要素
 IPD模式下的DFT體系結(jié)構(gòu)
 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本過(guò)程
 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)中常用術(shù)語(yǔ)及縮略語(yǔ)
2、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
 整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源
 整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
 單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源
 單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
 單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源
 單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
 單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源
 單板生產(chǎn)測(cè)試的抽象模型
※思考：?jiǎn)伟迳�產(chǎn)測(cè)試的目的是什么？
 單板生產(chǎn)測(cè)試路線
 單板生產(chǎn)工藝測(cè)試基本原理
 單板生產(chǎn)功能測(cè)試基本原理
 單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
※※討論：本公司各產(chǎn)品適合的生產(chǎn)測(cè)試方案和路線是怎樣的？
 JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的應(yīng)用
 JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
 單板維修可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
※※思考：本公司生產(chǎn)維修有哪些診斷手段？
3、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本方法
 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制物理通道
 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部測(cè)試命令集
 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制管理
 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試信息存儲(chǔ)與輸出
 輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部?jī)x器輸入輸出接口
 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——差錯(cuò)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——容限/極限數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
 內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——故障數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
 能控性設(shè)計(jì)——測(cè)試數(shù)據(jù)源的設(shè)置與啟動(dòng)
 能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)控
 能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)業(yè)務(wù)狀態(tài)監(jiān)控
 能觀性設(shè)計(jì)——單板運(yùn)行狀態(tài)監(jiān)控
 能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)資源狀態(tài)監(jiān)控
 能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)其它狀態(tài)監(jiān)控
 BIST設(shè)計(jì)——初始化自檢

▲▲案例解讀
4、單板可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)必須考慮的要素
 機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
 自檢和自環(huán)設(shè)計(jì)
 工裝夾具設(shè)計(jì)
 測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)
 芯片控制引腳設(shè)計(jì)
 邊界掃描測(cè)試設(shè)計(jì)
 EPLD/CPLD/FPGA設(shè)計(jì)
 如何設(shè)計(jì)以減少測(cè)試點(diǎn)
5、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施
 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施步驟
 可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施障礙
※※交流與探討：如何構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)體系和貨架技術(shù)

《可測(cè)性設(shè)計(jì)（DFT）工程實(shí)踐》培訓(xùn)受眾
電子信息企業(yè)系統(tǒng)工程師、研發(fā)部經(jīng)理、測(cè)試部經(jīng)理、制造技術(shù)部經(jīng)理、新產(chǎn)品導(dǎo)入(NPI)經(jīng)理，及研發(fā)工程師等

《可測(cè)性設(shè)計(jì)（DFT）工程實(shí)踐》所屬分類(lèi)
生產(chǎn)管理

《可測(cè)性設(shè)計(jì)（DFT）工程實(shí)踐》授課培訓(xùn)師簡(jiǎn)介

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