《電子產(chǎn)品可靠性白盒測(cè)試》課程詳情
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課程簡(jiǎn)介：
白盒測(cè)試的核心是波形診斷、器件參數(shù)分析、器件失效機(jī)理激發(fā)等內(nèi)容，通過(guò)對(duì)具體深入細(xì)節(jié)的測(cè)試測(cè)量，與預(yù)期標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)、波形對(duì)比，發(fā)現(xiàn)其中的隱患。
本課程著重從被測(cè)對(duì)象的隱患點(diǎn)、外部應(yīng)力、過(guò)渡過(guò)程、器件失效機(jī)理、工藝隱患等幾個(gè)方面展開(kāi)測(cè)試用例設(shè)計(jì)，既講解了測(cè)試用例的思考分析方法，又深入展開(kāi)了細(xì)節(jié)的具體問(wèn)題點(diǎn)分析。
通過(guò)本課程，可以快速積累測(cè)試經(jīng)驗(yàn)、掌握測(cè)試項(xiàng)目的選擇和測(cè)試用例的設(shè)計(jì)方法，為企業(yè)產(chǎn)品通過(guò)測(cè)試把關(guān)的方式實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性短期內(nèi)大幅度的提升保駕護(hù)航。
課程大綱：
1、 測(cè)試基礎(chǔ)
1.1、研發(fā)樣機(jī)測(cè)試與中試樣機(jī)測(cè)試的區(qū)別
1.2、原理驗(yàn)證和一致性驗(yàn)證的判據(jù)區(qū)別
1.3、測(cè)試的工具方法類(lèi)型（模擬測(cè)試、仿真、工程計(jì)算、規(guī)范審查）
1.4、基于單一故障的接口故障分析及測(cè)試模擬方法
1.5、測(cè)試覆蓋率與MECE方法
2、波形診斷
2.1、電路常見(jiàn)異常波形的種類(lèi)
2.2、回勾波形的成因與應(yīng)對(duì)措施
2.3、過(guò)沖波形的成因與應(yīng)對(duì)措施
2.4、振蕩波形的成因與應(yīng)對(duì)措施
2.5、平臺(tái)波形的成因與應(yīng)對(duì)措施
2.6、塌陷波形的成因與應(yīng)對(duì)措施
2.7、鼓包波形的成因與應(yīng)對(duì)措施
3、參數(shù)計(jì)算與審查
3.1、WCCA參數(shù)分析
3.2、容差計(jì)算
3.3、蒙特卡洛分析方法
3.4、降額審查
3.5、熱測(cè)試與計(jì)算
3.6、常用各類(lèi)電路里器件參數(shù)計(jì)算審查（電容、電感、磁珠、電阻、開(kāi)關(guān)管等）
4、一致性測(cè)試及測(cè)試數(shù)據(jù)分析
4.1、批次數(shù)據(jù)分析
4.2、正態(tài)分布的工程意義
4.3、各種異化正態(tài)分布曲線的含義與機(jī)理
5、單一故障分析與模擬測(cè)試
5.1、設(shè)計(jì)調(diào)查表
5.2、用戶現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境條件（環(huán)境對(duì)產(chǎn)品零部件的失效影響及模擬測(cè)試方法）
5.3、人機(jī)接口條件（操作者認(rèn)知與習(xí)慣的潛在隱患防護(hù)）
5.4、關(guān)聯(lián)設(shè)備的相互影響（能量與信號(hào)輸入輸出的相互潛在影響及模擬測(cè)試方法）
6、基于失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試
6.1、常用器件、部件零件的失效機(jī)理和失效誘發(fā)應(yīng)力
6.2、針對(duì)失效機(jī)理的模擬測(cè)試用例設(shè)計(jì)
7、軟件測(cè)試
7.1、路徑覆蓋的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法
7.2、數(shù)據(jù)覆蓋的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法
7.3、黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法
8、器件質(zhì)量控制測(cè)試
8.1、光學(xué)檢測(cè)
8.2、參數(shù)測(cè)試與統(tǒng)計(jì)分析
8.3、IV曲線測(cè)試
9、標(biāo)準(zhǔn)符合性測(cè)試
9.1、通用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目
9.2、安規(guī)（通用安規(guī)要求、安規(guī)測(cè)試判據(jù)、氣、液、電混合布局安規(guī)測(cè)試用例）
9.3、電磁兼容
9.4、產(chǎn)品內(nèi)部不同類(lèi)型模塊之間的相互影響檢查與測(cè)試
10、基于失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試
10.1、常用器件、部件零件的失效機(jī)理和失效誘發(fā)應(yīng)力
10.2、針對(duì)失效機(jī)理的模擬測(cè)試用例設(shè)計(jì)
11、應(yīng)力變化率測(cè)試
11.1、環(huán)境應(yīng)力變化率的影響
11.2、負(fù)載應(yīng)力變化率的影響
11.3、能量及信號(hào)輸入變化率的影響
11.4、過(guò)渡過(guò)程應(yīng)力對(duì)設(shè)備故障的影響
12、組合應(yīng)力測(cè)試
現(xiàn)場(chǎng)多應(yīng)力組合示例
13、器件失效特征規(guī)律和故障原因分析方法
13.1、電流應(yīng)力與電壓應(yīng)力的故障特征區(qū)別
13.2、突發(fā)浪涌應(yīng)力與持續(xù)過(guò)電應(yīng)力的故障特征區(qū)別
《電子產(chǎn)品可靠性白盒測(cè)試》培訓(xùn)受眾
測(cè)試工程師、系統(tǒng)工程師、項(xiàng)目經(jīng)理、技術(shù)部經(jīng)理、研發(fā)高管等
《電子產(chǎn)品可靠性白盒測(cè)試》所屬分類(lèi)
研發(fā)項(xiàng)目
《電子產(chǎn)品可靠性白盒測(cè)試》所屬專(zhuān)題
產(chǎn)品經(jīng)理培訓(xùn)、
產(chǎn)品中試管理培訓(xùn)、
產(chǎn)品測(cè)試管理、
《電子產(chǎn)品可靠性白盒測(cè)試》授課培訓(xùn)師簡(jiǎn)介
Kenny
電子工程碩士，研究領(lǐng)域：電子產(chǎn)品系統(tǒng)可靠性設(shè)計(jì)與測(cè)試技術(shù)。
曾任航天二院總體設(shè)計(jì)所主任設(shè)計(jì)師、高級(jí)項(xiàng)目經(jīng)理，機(jī)電制造企業(yè)研發(fā)總監(jiān)、事業(yè)部總監(jiān)，北京市級(jí)優(yōu)秀青年工程師，科協(xié)委員。
有電子產(chǎn)品、軍工、通信等專(zhuān)業(yè)方向的設(shè)計(jì)、測(cè)評(píng)和技術(shù)管理經(jīng)歷，對(duì)產(chǎn)品系統(tǒng)設(shè)計(jì)、可靠性設(shè)計(jì)、技術(shù)管理有較深入研究，曾在學(xué)術(shù)會(huì)議及多家技術(shù)刊物發(fā)表專(zhuān)業(yè)文章。
曾為比亞迪、中電30所、29所、北京華峰測(cè)控、北京航天長(zhǎng)峰、普析通用儀器、航天二院23所、航天五院、株洲車(chē)輛研究所、北大青鳥(niǎo)環(huán)宇、惠州德賽、陜西華經(jīng)微電子、西安工業(yè)集團(tuán)公司、松下電工、航盛電子等企業(yè)提供專(zhuān)業(yè)技術(shù)和技術(shù)管理輔導(dǎo)、培訓(xùn)和咨詢。
較擅長(zhǎng)于將高深的理論知識(shí)轉(zhuǎn)化為符合企業(yè)技術(shù)和經(jīng)營(yíng)特性的可操作實(shí)踐方法.
《電子產(chǎn)品可靠性白盒測(cè)試》報(bào)名服務(wù)流程
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